prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

2018

• Structural and Optical Properties of Luminescent Copper (I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition

  KRUMPOLEC Richard HOMOLA Tomáš CAMERON David Campbell HUMLÍČEK Josef CAHA Ondřej KULDOVÁ Karla ZAZPE Raul PŘIKRYL Jan MACAK Jan M.

  Článek v odborném periodiku

  Coatings, rok: 2018, ročník: 8, vydání: 10, DOI

2017

• Determination of the impact of Bi content on the valence band energy of GaAsBi using x-ray photoelectron spectroscopy

  COLLAR K. LI J. JIAO W. GUAN Y. LOSURDO M. HUMLÍČEK Josef BROWN A.S.

  Článek v odborném periodiku

  AIP Advances, rok: 2017, ročník: 7, vydání: 7, DOI

• Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon

  KLENOVSKÝ Petr ZŮDA Jaroslav KLAPETEK Petr HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: January, DOI

• Interband absorption edge in the topological insulators Bi-2(Te1-xSex)(3)

  DUBROKA Adam CAHA Ondřej HRONČEK Miloš FRIŠ Pavel ORLITA Milan HOLÝ Václav STEINER H. BAUER Günther SPRINGHOLZ Günter HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2017, ročník: 96, vydání: 23, DOI

• Inversion of the exciton built-in dipole moment in In(Ga)As quantum dots via nonlinear piezoelectric effect

  ABERL Johannes KLENOVSKÝ Petr WILDMANN Johannes S. MARTÍN-SÁNCHEZ Javier FROMHERZ Thomas ZALLO Eugenio HUMLÍČEK Josef RASTELLI Armando TROTTA Rinaldo

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2017, ročník: 96, vydání: 4, DOI

• Mid-infrared ellipsometry, Raman and X-ray diffraction studies of AlxGa1-xN/AlN/Si structures

  WANG Chennan CAHA Ondřej MÜNZ Filip KOSTELNÍK Petr NOVÁK Tomáš HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: November, DOI

2016

• Type-II InAs/GaAsSb/GaAs Quantum Dots as Artificial Quantum Dot Molecules

  KLENOVSKÝ Petr KŘÁPEK Vlastimil HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  ACTA PHYSICA POLONICA A, rok: 2016, ročník: 129, vydání: 1A, DOI

2015

• Optical functions of silicon from reflectance and ellipsometry on silicon-on-insulator and homoepitaxial samples

  HUMLÍČEK Josef ŠIK Jan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2015, ročník: 118, vydání: 19, DOI

• Polarization anisotropy of the emission from type-II quantum dots

  KLENOVSKÝ Petr HEMZAL Dušan STEINDL Petr ZÍKOVA Markéta KŘÁPEK Vlastimil HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2015, ročník: 92, vydání: 24, DOI

• R&D of x-ray and spectroscopic methods for characterization of TIGBT device

  WANG Chennan HUMLÍČEK Josef CAHA Ondřej

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2015