High Resolution x-ray diffractometry of ZnTe layers at elevated temperatures.

• Autoři: BOCHNÍČEK Zdeněk; HOLÝ Václav; WOLF G.; STANZL H.; GEBHARDT J.
• Rok publikování: 1995
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Applied Physics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus