Publication details
Metody analýz polovodičů s širokým zakazáným pásem
| Title in English | Analztical methods of wide band gap semiconductors |
|---|---|
| Authors | |
| Year of publication | 2020 |
| MU Faculty or unit | |
| Citation | |
| Description | This report describes methods of wide band gap semiconductor analysis. We have studied polytype composition using x-ray diffraction and Raman spectroscopy, crystalkographic defects using x-ray diffraction imaging and doping homogeneity using optical spectroscopy. ou metody analýe polovdičů se širokým pásem zakázaných energií, hlavně karbidu křemíku. Jedná se technologie určení polytypového složení pomocí rtg difrakce a Ramanovského rozptylu, zobarzování krystalografických defektů pomocí rtg difrakčních zobrazovacích metod a dopování pomocí optické spektroskopie. |
| Related projects: |