Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů
Title in English | Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces |
---|---|
Authors | |
Year of publication | 1996 |
Type | Article in Proceedings |
Conference | 12. konference českých a slovenských fyziků |
MU Faculty or unit | |
Citation | FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA and Karel NAVRÁTIL. Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů (Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces). In 12. konference českých a slovenských fyziků. Ostrava: Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků, 1996, p. 482-485. |
web | http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/KCSF96_482.html |
Field | Solid matter physics and magnetism |
Description | In this contribution we will show that equations for ellipsometric quantities and reflectance derived by us generalized Rayleigh-Rice theory (RRT) can be used for analysis of slightly rough thin layers. |