Mgr. Filip Münz, PhD.

2019

• Annealing Behavior with Thickness Hindered Nucleation in Small-Molecule Organic Semiconductor Thin Films

  ROZBOŘIL Jakub BROCH Katharina RESEL Roland CAHA Ondřej MÜNZ Filip MIKULÍK Petr ANTHONY John E. SIRRINGHAUS Henning NOVÁK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  CRYSTAL GROWTH & DESIGN, rok: 2019, ročník: 19, vydání: 7, DOI

2017

• Mid-infrared ellipsometry, Raman and X-ray diffraction studies of AlxGa1-xN/AlN/Si structures

  WANG Chennan CAHA Ondřej MÜNZ Filip KOSTELNÍK Petr NOVÁK Tomáš HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: November, DOI

2016

• Magneto-optical investigations of molecular nanomagnet monolayers

  ROZBOŘIL Jakub RECHKEMMER Yvonne BLOOS Dominik MÜNZ Filip WANG Chennan NEUGEBAUER Petr ČECHAL Jan NOVÁK Jiří VAN SLAGEREN Joris

  Článek v odborném periodiku

  Dalton Transactions, rok: 2016, ročník: 45, vydání: 18, DOI

2014

• Imaging in NIR *SOI, GaN

  MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2014

• Metrology of epitaxial layers *GaN

  CAHA Ondřej WANG Chennan MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2014

• Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI

  MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výsledky s právní ochranou

  Rok: 2014

2013

• Fyzikální praktikum 2

  CAHA Ondřej HEMZAL Dušan CHALOUPKA Jiří MIKULÍK Petr MÜNZ Filip

  Učebnice

  Rok: 2013, druh: Učebnice

2011

• Bursts in the HETE-2 catalogue

  MÜNZ Filip MAIORANO Elisabetta PIZZICHINI Graziella

  Článek v odborném periodiku

  Advances in Space Research, rok: 2011, ročník: 47, vydání: 8

• Infrared ellipsometry of highly oriented pyrolytic graphite

  HUMLÍČEK Josef NEBOJSA Alois MÜNZ Filip MIRIC Milka GAJIC Rados

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI

• Optimized calibration and measurement procedures in rotating analyzer and rotating polarizer ellipsometry

  MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef MARŠÍK Přemysl

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI