
doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D.
docentka – Depozice tenkých vrstev a nanostruktur
kancelář: pav. 06/02006
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3368 |
---|---|
e‑mail: | vilma.bursikova@ceitec.muni.cz |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 535
2020
-
Ellipsometric characterization of highly non-uniform thin films with the shape of thickness non-uniformity modeled by polynomials
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 4, DOI
-
Ellipsometric characterization of inhomogeneous thin films with complicated thickness non-uniformity: application to inhomogeneous polymer-like thin films
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 24, DOI
-
Characterization of Platinum-Based Thin Films Deposited by Thermionic Vacuum Arc (TVA) Method
Materials, rok: 2020, ročník: 13, vydání: 7, DOI
-
Spectroscopic ellipsometry of inhomogeneous thin films exhibiting thickness non-uniformity and transition layers
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 1, DOI
-
Studie mechanických vlastností připravených vrstev
Rok: 2020
-
Study of graphene layer growth on dielectric substrate in microwave plasma torch at atmospheric pressure
Diamond and Related Materials, rok: 2020, ročník: 105, vydání: May 2020, DOI
-
Study of nanostructured plasma-polymer thin films growth under dusty plasma conditions
11th International Conference on Nanomaterials - Research & Application (NANOCON 2019), rok: 2020
-
The Effect of a Taper Angle on Micro-Compression Testing of Mo-B-C Coatings
Materials, rok: 2020, ročník: 13, vydání: 14, DOI
-
The effect of chemical composition on the structure, chemistry and mechanical properties of magnetron sputtered W-B-C coatings: Modeling and experiments
Surface & coatings technology, rok: 2020, ročník: 383, vydání: FEB 15 2020, DOI
-
Verification of Nanoindentation Devices Using Atomic Force Microscopy
11th International Conference on Nanomaterials - Research & Application NANOCON 2019, rok: 2020