Přejít k obsahu | Přejít k hlavnímu menu | Přejít k vyhledávání

prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek

kancelář: pav. 09/02014
Kotlářská 267/2
611 37 Brno

Zobrazit na mapě

telefon: 549 49 4505
e‑mail:
sociální a akademické sítě:
Základní údaje
Životopis

Životopis

Identifikace osoby
  • Prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc. narozen 28. listopadu 1947 v Ostrově nad Oslavou; ženatý, 2 děti
Pracoviště
  • Přírodovědecká fakulta MU Ústav fyziky kondenzovaných látek Kotlářská 2 CZ-611 37 Brno Česká republika
Funkce na pracovišti
  • profesor, Ústav fyziky kondenzovaných látek
Vzdělání a akademická kvalifikace
  • 1965-1970: studium fyziky na Přírodovědecké fakultě university J.E. Purkyně, Brno
  • 1973: RNDr., práce o elektroreflexi na germaniu
  • 1975: CSc., práce o modulační spectroskopii Ge
  • 1990: habilitace, práce o analýze spektrálních profilů
  • 1994: profesor fyziky kondenzovaných látek, Masarykova univerzita
Přehled zaměstnání
  • 1971/72: studijní pobyt na Ústavu fyzikální metalurgie, ČSAV Brno
  • 1972-75: interní aspirantura, Přírodovědecká fakulta university J.E. Purkyně, Brno
  • 1976-90: různá místa odborného pracovníka na přírodovědecké fakultě university J.E. Purkyně, Brno
  • 1991-93: docent a vedoucí katedry na PřF MU Brno
  • 1994-2015: profesor a vedoucí katedry na PřF MU Brno
  • 2011-: vedoucí výzkumné skupiny, CEITEC
  • 2011-: vedoucí Centra nano- and microtechnologií, CEITEC MU
Pedagogická činnost
  • Termodynamika, Statistická fyzika, Fyzikální vlastnosti materiálů, Optické vlastnosti pevných látek, Fyzika kvantových jam a supermřížek, Pokročilé numerické metody, Matematické metody zpracování měření, Moderní experimentální metody, Panorama fyziky. Diplomový seminář. Fyzika kondenzovaných látek II.
Vědeckovýzkumná činnost
  • Fyzika pevných látek, optická spektroskopie.
Akademické stáže
  • 1987/88: Max-Planck Institute (MPI) FKF Stuttgart, 10 měsíců
  • 1990/91: MPI Stuttgart, 10 měsíců
  • 1992, 1993, 1995, 1996, 1998, 1998, 2000, 2001, 2002, 2003, 2004: MPI Stuttgart, 1-2 měsíce
  • 1997: Iowa State University, Ames, 2 měsíce
  • 2013: Kyung Hee University Seoul, 1 měsíc
Universitní aktivity
  • Od r. 1991: Vedoucí katedry, Přírodovědecká fakulta
  • Od r. 1991: Člen vědecké rady PřF MU
  • 1995-2015: Člen vědecké rady MU
Mimouniversitní aktivity
  • Člen Jednoty českých matematiků a fyziků, Evropské fyzikální společnosti, Americké fyzikální společnosti. Člen národního komitétu IUPAP. Člen oborové komise přírodních věd GAČR. Člen poradního orgánu EUPRO.
Ocenění vědeckou komunitou
  • Pozvané přednášky na universitách Linz, Aarhus, Copenhagen, Regensburg, Groningen, Houston, TU Wien, Fribourg, KHU Seoul; v ústavech ICMAB Barcelona, IMEC Leuven, KFKI Budapest, ISAS Berlin, KIST Seoul; na konferencích EPHTSC Kirchberg (1992), LEES2 Trest (1995), AS-ASFPCNS, Halle (1997). Předseda konference ICSE-3, Vídeň 2003. V roce 2000 zvolen Fellow of the Institute of Physics (Velká Británie). V roce 2003 zvolen řádným členem Učené společnosti ČR. 2012: medaile J.M. Marci. 2015: zlatá medaile FSI VUT Brno.
Vybrané publikace
  • HALE, Nathan, Matthias HARTL, Josef HUMLÍČEK, Christoph BRUNE a Morten KILDEMO. Dielectric function and band gap determination of single crystal CuFeS2 using FTIR-VIS-UV spectroscopic ellipsometry. Optical Materials Express. WASHINGTON: Optica Publishing Group, 2023, roč. 13, č. 7, s. 2020-2035. ISSN 2159-3930. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1364/OME.493426. URL info
  • HUMLÍČEK, Josef, Karla KULDOVA, Richard KRUMPOLEC a David Campbell CAMERON. Ellipsometry, reflectance, and photoluminescence of nanocrystalline CuCl thin films on silicon. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. MELVILLE: A V S AMER INST PHYSICS, 2019, roč. 37, č. 5, s. 1-5. ISSN 2166-2746. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1116/1.5121240. URL info
  • KLENOVSKÝ, Petr, Jaroslav ZŮDA, Petr KLAPETEK a Josef HUMLÍČEK. Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon. Applied Surface Science. AMSTERDAM: ELSEVIER SCIENCE BV, 2017, roč. 421, January, s. 542-546. ISSN 0169-4332. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.08.135. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Jan ŠIK. Optical functions of silicon from reflectance and ellipsometry on silicon-on-insulator and homoepitaxial samples. Journal of Applied Physics. Melville (USA): American Institute of Physics, 2015, roč. 118, č. 19, s. nestránkováno, 6 s. ISSN 0021-8979. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1063/1.4936126. URL info
  • HUMLÍČEK, Josef, Dušan HEMZAL, Adam DUBROKA, Ondřej CAHA, Hubert STEINER, Gunther BAUER a Guenther SPRINGHOLZ. Raman and interband optical spectra of epitaxial layers of the topological insulators Bi2Te3 and Bi2Se3 on BaF2 substrates. Physica Scripta. Bristol (England): Royal Swedish Academy of Sciences, 2014, T162, September, s. "nestránkováno", 4 s. ISSN 0031-8949. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/2014/T162/014007. URL info
  • HUMLÍČEK, Josef. Data Analysis for Nanomaterials: Effective Medium Approximation, Its Limits and Implementations. In Maria Losurdo; Kurt Hingerl. Ellipsometry at the Nanoscale. Berlin: Springer, 2013, s. 145-178. ISBN 978-3-642-33955-4. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33956-1_3. URL info
  • CAHA, Ondřej, P. KOSTELNÍK, Jan ŠIK, Y.D. KIM a Josef HUMLÍČEK. Lattice constants and optical response of pseudomorph Si-rich SiGe:B. Applied Physics Letters. USA: American institute of physics, 2013, roč. 103, č. 20, s. "nestránkováno", 4 s. ISSN 0003-6951. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1063/1.4830367. info
  • CAHA, Ondřej, Adam DUBROKA, Josef HUMLÍČEK, Václav HOLÝ, Hubert STEINER, M. UL-HASSAN, Jaime SANCHEZ-BARRIGA, Oliver RADER, T. N. STANISLAVCHUK, Andrei A. SIRENKO, Günther BAUER a Günter SPRINGHOLZ. Growth, Structure, and Electronic Properties of Epitaxial Bismuth Telluride Topological Insulator Films on BaF2 (111) Substrates. Crystal Growth & Design. Washington: American Chemical Society, 2013, roč. 13, č. 8, s. 3365-3373. ISSN 1528-7483. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1021/cg400048g. info
  • KLENOVSKÝ, Petr, Moritz BREHM, Vlastimil KŘÁPEK, Elisabeth LAUSECKER, Dominik MUNZAR, Florian HACKL, Hubert STEINER, Thomas FROMHERZ, Günther BAUER a Josef HUMLÍČEK. Excitation intensity dependence of photoluminescence spectra of SiGe quantum dots grown on prepatterned Si substrates: Evidence for biexcitonic transition. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 2012, roč. 86, č. 11, s. "nestránkováno", 8 s. ISSN 1098-0121. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.86.115305. URL info
  • JUNG, Yong Woo, J.S. BYUN, Y.D. KIM, Dušan HEMZAL a Josef HUMLÍČEK. Study of the Interaction Between HSA and Oligo-DNA Using Total Internal Reflection Ellipsometry. JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY. Seoul: Korean Physical Soc, 2012, roč. 60, č. 8, s. 1288-1291. ISSN 0374-4884. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.3938/jkps.60.1288. URL info
  • MÜNZ, Filip, Josef HUMLÍČEK a Přemysl MARŠÍK. Optimized calibration and measurement procedures in rotating analyzer and rotating polarizer ellipsometry. Thin Solid Films. Elsevier, 2011, roč. 519, č. 9, s. 2703-2706. ISSN 0040-6090. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.063. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Infrared resonances of local fields and ellipsometric spectra of negative-refraction metamaterials. Thin Solid Films. Elsevier, 2011, roč. 519, č. 9, s. 2655-2658. ISSN 0040-6090. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.055. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Alois NEBOJSA, Filip MÜNZ, Milka MIRIC a Rados GAJIC. Infrared ellipsometry of highly oriented pyrolytic graphite. Thin Solid Films. Elsevier, 2011, roč. 519, č. 9, s. 2624-2626. ISSN 0040-6090. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.091. info
  • GLADKOV, Petar, Josef HUMLÍČEK, Eduard HULICIUS, Tomislav ŠIMEČEK, Tanya PASKOVA a Keith EVANS. Effect of Fe doping on optical properties of freestanding semi-insulating HVPE GaN:Fe. Journal of crystal growth. Amsterdam: Elsevier Science, 2010, roč. 312, č. 8, s. 1205-1209. ISSN 0022-0248. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Efficient dealing with spectrum line profiles using complex rational functions. JOURNAL OF QUANTITATIVE SPECTROSCOPY & RADIATIVE TRANSFER. Oxford: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, OXFORD, 2010, roč. 111, č. 11, s. 1543–1544. ISSN 0022-4073. info
  • HUMLÍČEK, Josef. In-situ spectroscopic ellipsometry: optimization of monitoring and closed-loop-control procedures. physica status solidi (a), Applied research. Berlin: Akademie-Verlag, 2008, roč. 205, č. 4, s. 793-796. ISSN 1862-6300. info
  • HOSPODKOVÁ, Alice, Vlastimil KŘÁPEK, Karla KULDOVÁ a Josef HUMLÍČEK. Photoluminescence and magnetophotoluminescence of vertically stacked InAs/GaAs quantum dot structures. Physica E. Amsterdam: Elsevier Science, 2007, roč. 36, č. 1, s. 106-113. ISSN 1386-9477. info
  • KŘÁPEK, Vlastimil, Karla KULDOVÁ, Jiří OSWALD, Alice HOSPODKOVÁ, Eduard HULICIUS a Josef HUMLÍČEK. Electron states and magnetophotoluminescence of elongated InAs/GaAs quantum dots. In CP893, Physics of Semiconductors: 28th International Conference on the Physics of Semiconductors. USA: American Institute of Physics, 2007, s. 901-902. ISBN 978-0-7354-0397-0. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Richard ŠTOUDEK a Adam DUBROKA. Infrared vibrations of interstitial oxygen in silicon-rich SiGe alloys. Physica B. Amsterdam: Elsevier Science, 2006, roč. 376-377, č. 6, s. 212-215. ISSN 0921-4526. info
  • KULDOVÁ, Karla, Vlastimil KŘÁPEK, Alice HOSPODKOVÁ, Jiří OSWALD, Jiří PANGRÁC, Karel MELICHAR, Eduard HULICIUS, Marek POTEMSKI a Josef HUMLÍČEK. 1.3 mum emission from InAs/GaAs quantum dots. physica status solidi (c). Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbH, 2006, roč. 3, č. 11, s. 3811-3814. ISSN 1610-1642. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Polarized light and ellipsometry. In Handbook of Ellipsometry. New York: William Andrew Publishing, 2005, s. 3-91. Handbook of Ellipsometry. ISBN 0-8155-1499-9. koprodukce William Andrew a Springer-Verlag info
  • HUMLÍČEK, Josef, Vlastimil KŘÁPEK a Jan FIKAR. Anisotropy of Absorption and Luminescence of Multilayer InAs/GaAs Quantum Dots. In CP772, Physics of Semiconductors: 27th International Conference on the Physics of Semiconductors. USA: American Institute of Physics, 2005, s. 753-754. ISBN 0-7354-0257--4. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Vlastimil KŘÁPEK. Infrared Response of Heavily Doped p-type Si and SiGe Alloys from Ellipsometric Measurements. In CP772, Physics of Semiconductors: 27th International Conference on the Physics of Semiconductors. USA: American Institute of Physics, 2005, s. 113-114. ISBN 0-7354-0257--4. info
  • BERNHARD, Christian, Todd HOLDEN, Alexandr BORIS, Natalia KOVALEVA, Alexei PIMENOV a Josef HUMLÍČEK. Anomalous oxygen-isotope effect on the in-plane far-infrared conductivity of detwinned (YBa2Cu3O6.9)-O-16,18. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 2004, roč. 69, č. 5, s. 2502-4, 4 s. ISSN 0163-1829. info
  • HOLDEN, Todd, Hanns HABERMEIER, Georg CRISTIANI, Andrzej GOLNIK, Alexander BORIS, Alexei PIMENOV a Josef HUMLÍČEK. Proximity induced metal-insulator transition in YBa2Cu3O7/La2/3Ca1/3MnO3 superlattices. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 2004, roč. 69, č. 6, s. 4505 1-7, 7 s. ISSN 1098-0121. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Christian BERNHARD. Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples. Thin Solid Films. Oxford: Elsevier, 2004, roč. 455-456, č. 1, s. 177-182. ISSN 0040-6090. info
  • BERNHARD, Christian, Josef HUMLÍČEK a Bernhard KEIMER. Far-infrared ellipsometry using a synchrotron light source - the dielectric response of the cuprate high Tc superconductors. Thin Solid Films. Oxford: Elsevier, 2004, roč. 455-456, č. 1, s. 143-149. ISSN 0040-6090. info
  • BERNHARD, C., T. HOLDEN, Josef HUMLÍČEK, Dominik MUNZAR a A. GOLNIK. In-plane polarized collective modes in detwinned YBa2Cu3O6.95 observed by spectral ellipsometry. Solid state communications. Velká Britanie: Pergamon-Elsevier Science, 2002, roč. 121, č. 2, s. 93-97. ISSN 0038-1098. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Miquel GARRIGA. Temperature Dependence of the Optical Spectra of SiGe Alloys. In PANTELIDES, Sokrates T. a Stefan ZOLLNER. Silicon-Germanium Carbon Alloys. New York: Taylor & Francis, 2002, s. 483-530. Optoelectronic Properties of Semicond. and SL, 15. ISBN 1-56032-963-7. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Dominik MUNZAR, Karel NAVRÁTIL a Michal LORENC. Polarization anisotropy of photoluminescence from multilayer InAs/GaAs quantum dots. Physica E. Amsterdam: Elsevier Science, 2002, roč. 13, č. 2, s. 229-232. ISSN 1386-9477. info
  • BOČÁNEK, Luděk, Blanka HANDLÍŘOVÁ a Josef HUMLÍČEK. Temperature dependence of optical spectra of C 60 thin films. Fullerene Science and Technology. New York: Marcel Dekker, Inc, 2000, roč. 8 (2000), 4-5, s. 267-278. ISSN 1064-122X. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Ralf HENN a Manuel CARDONA. Infrared vibrations in LaSrGaO4 and LaSrAlO4. Phys. Rev. B. USA: The American Phys. Society, 2000, roč. 61, č. 21, s. 14554-14563. ISSN 0163-1829. info
  • ŠIK, Jan a Josef HUMLÍČEK. Near-band-gap optical functions spectra and band-gap energies of GaNAs/GaAs superlattice. Appl. Phys. Lett. USA: Institute of Physics, 2000, roč. 76, č. 20, s. 2859-2861. ISSN 0003-6951. info
  • BERNHARD, C., Dominik MUNZAR, A. GOLNIK,LIN,WITTLIN, Josef HUMLÍČEK a M. CARDONA. Anomaly of oxygen bond-bending mode at 320 cm-1 and additional absorption peak in the c-axis infrared conductivity of underdoped YBa2Cu3O7 single crystals. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 2000, roč. 61, č. 1, s. 618-626. ISSN 0163-1829. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Infrared Spectroscopy of LiF on Ag and Si. Phys.stat.sol.(b). Germany, 1999, roč. 215(1999), -, s. 155-159. info
  • NAVRÁTIL, Karel, Jan ŠIK, Josef HUMLÍČEK a S. NEŠPŮREK. Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene). Optical Materials. Amsterdam: Elsevier, 1999, roč. 1999, č. 12, s. 105-113. ISSN 0925-3467. info
  • MUNZAR, Dominik, C. BERNHARD, A. GOLNIK, Josef HUMLÍČEK a M. CARDONA. A New Interpretation of the Phonon Anomalies in the Far-Infrared c-Axis Conductivity of Underdoped YBa2Cu30y. Phys. Stat. Sol. (b). Berlin: Wiley-VCH, 1999, roč. 215(1999), -, s. 557-561. info
  • MUNZAR, Dominik, C. BERNHARD, A. GOLNIK, Josef HUMLÍČEK a M. CARDONA. Anomalies of the infrared-active phonons in underdoped YBa2Cu30y as evidence for the intra-bilayer Josephson effect. Solid state communications. Velká Britanie: Pergamon, 1999, (112)1999, -, s. 365-369. ISSN 0038-1098. info
  • MUNZAR, Dominik, C. BERNHARD, A. GOLNIK, Josef HUMLÍČEK a M. CARDONA. Phonon Anomalies in the Far-Infrared c-Axis Conductivity of Underdoped YBa2Cu30y as evidence for the intra-bilayer Josephson effect. Journal of Low Temperature Physics. USA: Plenum Publishing Corporation, 1999, roč. 117(1999), 5/6, s. 1049-1053. ISSN 0022-2291. info
  • GOLNIK, A., Ch. BERNHARD, Josef HUMLÍČEK, M. KLAESER a M. CARDONA. The far-infrared in-plane conductiivity of YBaCuO studied by ellipsometry. physics status solidi (b). 1999, roč. 215, č. 1, s. 553-556. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Silicon-germanium alloys (Si x Ge 1-x) revisited. In Handbook of optical Constants of solids III. 1. vyd. USA: Academic Press, 1998, s. 537-552. ISBN 0-12-544423-0. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Infrared ellipsometry of LiF. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, 313-314, s. 687-691. ISSN 0040-6090. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, 313-314, s. 656-660. ISSN 0040-6090. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Alois NEBOJSA, J. HORA, M. STRÁSKÝ, J. SPOUSTA a T. ŠIKOLA. Ellipsometry and transport studies of thin-film metal nitrides. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, č. 332, s. 25-29. ISSN 0040-6090. info
  • BORTCHAGOVSKY, E., I. YURCHENKO, Z. KAZANTSEVA, Josef HUMLÍČEK a J. HORA. Spectroscopic ellipsometry of fullerene embedded langmuir-blodgett films with surface plasmon excitation. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, 313-314, s. 795-798. ISSN 0040-6090. info
  • ŠIK, Jan, Jaroslav HORA a Josef HUMLÍČEK. Optical functions of silicon at high temperatures. Journal of Applied Physics. USA: American institute of physics, 1998, roč. 1998, č. 11, s. 6291-6298. ISSN 0021-8979. info
  • HANDLÍŘOVÁ, Blanka, Josef HUMLÍČEK, Luděk BOČÁNEK, T. NGUYEN MANH a H. SITTER. Thermally modulated optical response of C 60 thin films in the region of absorption edge. Molecular nanostructures. World Scientific Publishing Company, 1997, roč. 1998, -, s. 155-158. info
  • HORA, Jaroslav, Petr PÁNEK, Karel NAVRÁTIL a Josef HUMLÍČEK. Optical response of C60 thin films and solutions. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 1996, roč. 54(1996), č. 7, s. 5106-5113. ISSN 0163-1829. info
  • HORA, Jaroslav, Karel NAVRÁTIL a Josef HUMLÍČEK. Optical Anisotropy of SrLaAlO(4) and SrLaAl(0.75)Ga(0.25) O(4) Single Crystals. Phys. Stat. Sol. (b). Berlin: Wiley-VCH, 1996, roč. 1996, č. 195, s. 625-635. info
  • HUMLÍČEK, Josef, R. HENN a M. CARDONA. Far-infrared Ellipsometry of Depleted Surface Layer in Heavily Doped N-type GaAs. Appl. Phys. Lett. USA: Institute of Physics, 1996, roč. 69(1996), č. 17, s. 2581-2583. ISSN 0003-6951. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Infrared Electrodynamics From Ellipsometric Measurements. Ferroelectrics. Amsterdam: OPA, 1996, roč. 1996, č. 176, s. 221-238. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Luděk BOČÁNEK, Karel NAVRÁTIL, Petr PÁNEK a Radoslav ŠVEHLA. Excition-polariton edge of GaAs: MBE layers between multiple-quantum-well structures. Solid State Communications. UK: Elsevier Science, 1995, roč. 93(1995), č. 9, s. 725-728. ISSN 0038-1098. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Optical spectroscopy of SiGe. In Silicon Germanium. London, UK: University of Stuttgart, Germany, 1995, s. 116-120. INSPEC. ISBN 0-85296-826-4. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Optical functions of the relaxed SiGe alloy and influence of strain. In Silicon Germanium. London, UK: University of Stuttgart, Germany, 1995, s. 121-131. INSPEC. ISBN 0-85296-826-4. info
  • PÁNEK, Petr, Dominik MUNZAR, Josef HUMLÍČEK a František LUKEŠ. Photoreflectance Study of a Fibonacci Superlattice. physica status solidi (b). Berlin: J. Wiley, 1995, roč. 190(1995), č. 1995, s. 579-586. ISSN 0370-1972. info
  • HUMLÍČEK, Josef, C. THOMSEN a M. CARDONA. Far-infrared response of free carriers in YBA 2 Cu 3 O 7 from ellipsometric measurements. Physica C. Holland: Elsevier, 1994, roč. 222, č. 1, s. 166-172. ISSN 0921-4534. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Transverse and longitudinal vibration modes in alpha-quartz. Philosophical Magazine B. Taylor and Francis, 1994, roč. 70(1994), č. 3, s. 699-710. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Miquel GARRIGA. Temperature dependence of the refractive index of crystalline germanium-silicon alloys. Appl. Phys. A. Springer-Verlag, 1993, roč. 1993, č. 2, s. 259-261. info
  • HUMLÍČEK, Josef, A.P. LITVINCHUK a W. KRESS. Lattice vibrations of Y(1-x) Pr( x) Ba(2)Cu(3)O(7): theory and experiment. Physica C. Holland: Elsevier, 1993, roč. 1993, č. 3, s. 345-359. ISSN 0921-4534. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Eduard SCHMIDT, Luděk BOČÁNEK a Radoslav ŠVEHLA. Exciton line shapes of GaAs/AlAs multiple quantum wells. Phys. Rev. B. USA: The American Phys. Society, 1993, roč. 48(1993), č. 8, s. 5241-5248. ISSN 0163-1829. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Normal-state infrared response from ellipsometric measurements: YBa(2)Cu(3)O(7) and PrBa(2)Cu(3)O(7). In Electronic Properties of high-Tc Superconductors. 1. vyd. Berlin, Heidelberg: Springer Verlag, 1993, s. 244-248. Springer Series in Solid-State Sciences, vol. 113. ISBN 3-540-56195-1. info
  • HUMLÍČEK, Josef, K. KAMARAS a J. KIRCHER. Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1993, roč. 234, č. 1, s. 518-521. ISSN 0040-6090. info
  • HUMLÍČEK, Josef a Arnulf ROESELER. IR ellipsometry of the highly anisotropic materials alpha - SiO2 and alpha-Al2O3. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1993, roč. 234, č. 1, s. 332-336. ISSN 0040-6090. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Sensitivity of optical measurements of planar stratified structures and reduction of experimentsl data. 1. vyd. Brno: Masaryk University Brno, 1993, 99 s. FOLIA Fac. Sci. Nat. UM Brunensis, Physica 49. ISBN 80-210-0423-1. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Infrared refracctive index of germanium-silicon alloy crystals. Appl. Opt. 1993, roč. 31(1992), č. 1, s. 90-94. info
  • ZOLLNER, S. a Josef HUMLÍČEK. Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1993, roč. 1993, -, s. 185-188. ISSN 0040-6090. info
  • ZOLLNER, S., M. GARRIGA, J. KIRCHER, Josef HUMLÍČEK, M. CARDONA a G. NEUHOLD. Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP. Phys. Rev. B. USA: The American Phys. Society, 1993, roč. 48, č. 11, s. 7915-7929. ISSN 0163-1829. info
  • HUMLÍČEK, Josef, Arnulf ROESELER, Thomas ZETTLER, Maria KEKOUA a Elza KHOUTSISHVILI. Infrared refractive index of germanium-silicon alloy crystals. Applied Optics. USA: Optical Society of America, 1992, roč. 31, č. 1, s. 90-94. ISSN 0003-6935. info
  • SCHMID, Uwe, Josef HUMLÍČEK, František LUKEŠ a Manuel CARDONA. Optical transitions in strained Ge/Si superlattices. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 1992, roč. 45, č. 12, s. 6793-6801. ISSN 0163-1829. info
  • KIRCHER, J., Josef HUMLÍČEK, Miquel GARRIGA a Manuel CARDONA. Interband transitions in YBa(2)Cu(3)O(7). Physica C. Holland: Elsevier, 1992, roč. 192, č. 5, s. 473-480. ISSN 0921-4534. info
  • SCHMID, U., Josef HUMLÍČEK, F. LUKEŠ a M. CARDONA. Optical transitions in strained Si/Ge superlattices. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 1992, roč. 222, č. 2, s. 246-250. ISSN 0040-6090. info
  • HUMLÍČEK, Josef a František LUKEŠ. REFLECTANCE AND PHOTOREFLECTANCE SPECTRA OF GAAS/ALAS SUPERLATTICES. Superlattices and Microstructures. London: ACADEMIC PRESS LTD, LONDON, 1991, roč. 9, č. 1, s. 133-136. ISSN 0749-6036. info
  • HUMLÍČEK, Josef. OPTICAL-SPECTRA OF SIXGE1-X ALLOYS. J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 1989, roč. 65, č. 7, s. 2827-2832. ISSN 0021-8979. info
  • HUMLÍČEK, Josef, M. GARRIGA a M. CARDONA. TEMPERATURE-DEPENDENCE OF OPTICAL-EXCITATIONS IN YBA2CU3O6, SMBA2CU3O6. Solid state communications. Velká Britanie: Pergamon, 1988, roč. 67, č. 6, s. 589-592. ISSN 0038-1098. info
  • HUMLÍČEK, Josef. SENSITIVITY EXTREMA IN MULTIPLE-ANGLE ELLIPSOMETRY. JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA A. OPTICAL SOC AMER, WASHINGTON, 1985, roč. 2, č. 5, s. 713-722. ISSN 0740-3232. info
  • HUMLÍČEK, Josef. Optimized computation of the Voigt and complex probability functions. JOURNAL OF QUANTITATIVE SPECTROSCOPY & RADIATIVE TRANSFER. Oxford: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, OXFORD, 1982, roč. 27, č. 4, s. 437-444. ISSN 0022-4073. info
  • HUMLÍČEK, Josef. An efficient method for evaluation of the complex probability function: the Voigt function and its derivatives. JOURNAL OF QUANTITATIVE SPECTROSCOPY & RADIATIVE TRANSFER. Oxford: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, OXFORD, 1978, roč. 21, s. 309-313. ISSN 0022-4073. info

22. 9. 2017

Školitel
Kvalifikace
Publikace
Projekty
Výuka

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info