doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

2005

• Spontaneous lateral modulation in short-period superlattices investigated by grazing-incidence X-ray diffraction

  CAHA Ondřej MIKULÍK Petr NOVÁK Jiří HOLÝ Václav MOSS Simon C. NORMAN Andrew

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2005, ročník: 72, vydání: 3

• Three-dimensional imaging of cement microstructure evolution during hydration Three-dimensional imaging of cement microstructure evolution during hydration

  HELFEN L. DEHN F. MIKULÍK Petr BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  Advances in Cement Research, rok: 2005, ročník: 17, vydání: 3

2004

• Micro- and nano-NDE in the laboratory for acoustic diagnosis and quality assurance

  KÖHLER B. SCHREIBER J. BENDJUS B. HERMS M. MELOV V. HELFEN L. MIKULÍK Petr BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  Proceedings of SPIE: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II, rok: 2004, ročník: 5392, vydání: 1

• Project of a clean room laboratory for silicon device technology at the Masaryk University

  MIKULÍK Petr

  Článek ve sborníku

  Proceedings of International Conference Silicon-2004, rok: 2004

• Synchrotron-radiation X-ray tomography: a method for 3D imaging of cement microstructure and its evolution during hydration

  BAUMBACH T. HELFEN L. MIKULÍK Petr DEHN F.

  Článek ve sborníku

  Proceedings of XIV. International Symposium SANACE 2004, rok: 2004

2003

• Determination of lattice plane curvature and dislocation Burgers vector density in crystals by rocking curve imaging technique

  FERRARI C. VERDI N. LÜBBERT D. KORYTÁR D. MIKULÍK Petr BAUMBACH T. HELFEN L. PERNOT P.

  Článek v odborném periodiku

  Proceedings of SPIE: Crystals, Multilayers, and Other Synchrotron Optics, rok: 2003, ročník: 5195, vydání: 1

• Synchrotron area diffractometry as a tool for spatial high-resolution three-dimensional lattice misorientation mapping

  MIKULÍK Petr LÜBBERT D. KORYTÁR D. PERNOT P. BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2003, ročník: 36, vydání: 1

• Two-dimensional x-ray magnification based on a monolithic beam conditioner

  KORYTÁR D. MIKULÍK Petr FERRARI C. HRDÝ J. BAUMBACH T. FREUND A. KUBĚNA Alan

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2003, ročník: 36, vydání: 1

2002

• Advanced X-ray diffraction imaging techniques for semiconductor wafer characterisation

  MIKULÍK Petr BAUMBACH T. KORYTÁR D. PERNOT P. LÜBBERT D. HELFEN L. LANDESBERGER Ch.

  Článek v odborném periodiku

  Materials Structure, rok: 2002, ročník: 9, vydání: 2

• Strain in buried quantum wires: Analytical calculations and x-ray diffraction study

  KAGANER V.M. JENICHEN B. PARIS G. PLOOG K.H. KONOVALOV O. MIKULÍK Petr ARAI S.

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Rev. B, rok: 2002, ročník: 2002, vydání: 66