doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

2001

• Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings

  MIKULÍK Petr JERGEL M. BAUMBACH T. MAJKOVÁ E. PINČÍK E. LUBY Š. ORTEGA L. TUCOULOU R. HUDEK P. KOSTIČ I.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A

• X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires

  ULYANENKOV A. INABA K. MIKULÍK Petr DAROWSKI N. OMOTE K. GRENZER J. FORCHEL A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A

• X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer grating

  JERGEL M. FALCONY C. MIKULÍK Petr ORTEGA L. MAJKOVÁ E. PINČÍK E. LUBY Š. KOSTIČ I. HUDEK P.

  Článek v odborném periodiku

  Superficies y Vacío, rok: 2001, ročník: 2001, vydání: 13

2000

• Multilayer gratings for X-UV optics

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. PINČÍK E. LUBY Š. BRUNEL M. HUDEK P. KOSTIČ I.

  Článek v odborném periodiku

  Acta physica slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4

• Nearly perfect 3D ordering in IV-VI quantum dot superlattices with ABCABC... vertical stacking sequence

  SPRINGHOLZ G. STANGL J. PINCZOLITS M. HOLÝ Václav MIKULÍK Petr MAYER P. WIESAUER K. BAUER G. SMILGIES D. KANG H.H. SALAMANCA-RIBA L.

  Článek v odborném periodiku

  Physica E, rok: 2000, ročník: 2000, vydání: 7

1999

• High-resolution x-ray diffraction on self-organized step bunches of Si_1-xGe_x grown on (113)-oriented Si

  STANGL J. HOLÝ Václav DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr BAUER G. ZHU J. BRUNNER K. ABSTREITER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• Self-assembled carbon-induced germanium quantum dots studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering

  STANGL J. HOLÝ Václav MIKULÍK Petr BAUER G. KEGEL I. METZGER T.H. SCHMIDT O.G. LANGE C. EBERL K.

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 1999, ročník: 74, vydání: -

• Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction

  ZHUANG Y. HOLÝ Václav STANGL J. DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G. DAROWSKI N. LÜBBERT D. PIETSCH U.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. LUBY Š. SENDERÁK R. PINČÍK E. BRUNEL M. HUDEK P. KOSTIČ I. KONEČNÍKOVÁ A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 85, vydání: 2

• Structural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. LUBY Š. SENDERÁK R. PINČÍK E. BRUNEL M. KOSTIČ I. KONEČNÍKOVÁ A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999