X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

• Autoři: PLOTZ W.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1994
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: J. Phys. III France 4
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur