Informace o publikaci

Structural characterization of reactive ion-etched semicond uctor nanostructures using x-ray reciprocal space mapping

Autoři

BAUER G. DARHUBER A. HOLÝ Václav

Rok publikování 1996
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info