Informace o publikaci
New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1996 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Thin Solid Films |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Teoretická fyzika |
| Klíčová slova | Optical properties; Photovoltage; Semiconductors |