Elastic strains in GaAs/AlAs quantum dots studied by high resolution. X-ray diffraction

• Autoři: HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1996
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Solid - State Electronics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur