Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

• Autoři: CHLÁDEK M.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1996
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Appl. Phys. Lett.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Teoretická fyzika

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur