Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by X-ray diffraction techniques

• Autoři: DARHUBER A.A.; STANGL J.; HOLÝ Václav; BAUER G.; KROST A.; GRUNDMANN M.; BIMBERG D.; USTINOV V.M.; KOP'EV P.S.; KOSOGOV A.O.; WERNER P.
• Rok publikování: 1997
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Thin Solid Films
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur