![Důležité termíny](https://cdn.muni.cz/media/3633704/image_2.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=133572412150000000&heightratio=0.5&width=278)
Informace o publikaci
X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots
Autoři | |
---|---|
Rok publikování | 1999 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Journal of Materials Science: Materials in Electronics |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | quantum wires; quantum dots; SiGe; x-ray diffraction |
Popis | Informace o tvaru a rozložení napětí v nanostrukturách může být získána z měření rozptýlené intenzity v reciprokém prostoru. Tuto metodu aplikujeme na laterálně strukturované periodické supermřížky Si/SiGe a na periodické mřížky SiGe teček v Si. |
Související projekty: |