Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering

• Autoři: ROCH T.; STANGL J; HOLY V.; BAUER G
• Rok publikování: 2001
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: physica status solidi (b)
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: grazing incidence diffraction
• Popis: Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering

Související projekty

• Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur