High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

• Název česky: Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách
• Autoři: HOLÝ Václav; PIETSCH Ullrich; BAUMBACH Tilo
• Rok publikování: 2004
• Druh: Odborná kniha
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Popis: Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách

Související projekty

• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur