Effect of Structural Imperfections on the Characteristics of YSZ Dielectric Layers Grown by E-beam Evaporation fron the Crystalline Taggets

• Název česky: Vliv strukturních nedokonalostí na charakteristiky YSZ dielektrických vrstev
• Autoři: HARTMANNOVÁ Mária; JERGEL Martin; NAVRÁTIL Vladislav; NAVRÁTIL Karel; GMUCOVÁ Katarina; GANDARILLA F.C.; ZEMEK Jan; CHROMIK Stefan; KUNDRACIK Frantiaek
• Rok publikování: 2005
• Druh: Článek ve sborníku
• Konference: Acta Physica Slovaca
• Fakulta / Pracoviště MU: Pedagogická fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Yttria stabilized zirconia; thin films; electrical conductivity; microhardness; refractive index; relative permitivity
• Popis: Merene vrstvicky byly deponovany pomoci e-beam vyparovani na yttriem stabilizovanych zirkoniovych vzorcich na n-dopovanem Si (111) pri teplote 750 C. Mereni elektricke vodivosti a aktivacni energie v zavislosti na koncentraci yttria ukazuje na pritomnost izolovanych kyslikovych iontovych vakanci a s tim spojenych bodovych poruch. Vyledky mereni mechanickych resp. optickych vlastnosti (mikrotvrdost),resp. index lomu ukazuji na vhodnost vyuziti vrstvicek pro ochranné ucely.

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
• Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek