X-ray reflectivity analysis of thin complex Langmuir-Blodgett films

• Název česky: Analýza tenkých složitých Langmuir-Blodgettových filmů rtg reflektivitou
• Autoři: POLOUČEK Pavel; PIETSCH U.; GEUE T.; SYMIETZ C.; BREZESINSKI G.
• Rok publikování: 2001
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of physics D: Applied physics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: x-ray reflectivity; xrr; thin film; langmuir-blodgett films; density
• Popis: Metoda rtg reflektivity byla použita pro studium struktury Langmuir-Blodgettových filmů na bázi PDADMAC - lipid (DPPA).

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur