Informace o publikaci

Diffuse X-ray scattering from GaN/SiC (0001) thin films

Název česky Difúzní rtg rozptyl na tenkých vrstvách GaN/SiC
Autoři

HOLÝ Václav DANIŠ Stanislav

Rok publikování 2006
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Zeitschrift für Kristallographie
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Diffuse X-ray scattering from GaN/SiC (0001) thin films
Popis Difúzní rtg rozptyl na tenkých vrstvách GaN/SiC

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info

K vyhodnocování tohoto webu a k personalizaci obsahu a reklam používáme soubory cookies. Když klikněte na „přijmout cookies", poskytnete nám souhlas k jejich uložení, správě a analýze. Upravit možnosti

Jen nezbytné Přijmout cookies