Informace o publikaci
Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy
| Název česky | Charakterizace polymerních tenkých vrstev deponovaných na hliníkových vrstvách pomocí kombinované optické metody a mikroskopie atomové síly |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2006 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Surface and Interface Analysis |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | ellipsometry; reflectometry; polymer films; AFM |
| Popis | V tomto článku |
| Související projekty: |
|