Informace o publikaci

Near-field scanning optical microscope probe analysis

Název česky Analýza sondy mikroskopu blízkého pole
Autoři

KLAPETEK Petr BURŠÍK Jiří VALTR Miroslav MARTÍNEK Jan

Rok publikování 2008
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Ultramicroscopy
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Doi http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.10.014
Obor Optika, masery a lasery
Klíčová slova NSOM;Artifacts
Popis V tomto článku je prezentováno srovnání dvou metod na charakterizaci NSOM sond. Analýza pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu zkombinovaná s modelováním elektromagnetického pole metodou FDTD je porovnávána s vyzařovacími diagramy NSOM sond ve vzdáleném poli. Je ukázáno, že měření těchto diagramů může být efektivním nástrojem pro každodenní kontrolu kvality NSOM sond. Navíc je ukázáno, že vnitřní geometrie sondy má velký vliv na směrové vyzařování sondy a že vyzařovací diagram ve vzdáleném poli může být použit jako jednoduchá metoda pro rozlišení mezi různými geometriemi sond.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info