Informace o publikaci

Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

Název česky Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích
Autoři

LÜBBERT D. BAUMBACH T. HOLÝ Václav MIKULÍK Petr HELFEN L. PERNOT P. ELLYAN M. KELLER S. KATONA T.M. DENBAARS S.P. SPECK J.

Rok publikování 2008
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Europhysics Letters
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachHoly-EPL-2008
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
Popis Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info