Informace o publikaci
Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
Název česky | Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2008 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Europhysics Letters |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
www | http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachHoly-EPL-2008 |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN |
Popis | Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech. |
Související projekty: |