Informace o publikaci
Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements
| Název česky | Relaxace hrotu na vzorku jako zdroj nejistot v SPM meřeních v nanoměřítku |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2009 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Measurement Science and Technology |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | atomic force microscopy; uncertainty; DFT; carbon nanotube |
| Popis | Délková měření v nanoměřítku jsou velmi často zaměřena na malé objekty tvořené jen několika atomárními vrstvami v jednom nebo více rozměrech. Klasický přístup popisu artefaktů založený na konvoluci hrotu a vzorku nemůže platit pro tyto vzorky vzhledem na kvantově-mechanickou povahu malých objektů. Díky působení meziatomárních sil, atomy hrotu a vzorku se ustálí v rovnovážných polohách. Toto vede na změny ve veličinách, které jsou nakonec interpretovány jako poloha AFM hrotu a ovlivňují se tak výsledná délková měření. V tomto článku jsou rozebírány zdroje nejistot spojené s relaxací hrotu na vzorku na atomární úrovni. Jsou prezentovány výsledky DFT modelování (pomocí programu Fireball používajícího aproximaci těsné vazby) AFM snímků typických systémů používaných v nanometrologii, např. fulerenů a CNT na HOPG substrátech. |
| Související projekty: |