Zde se nacházíte:
Informace o publikaci
X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si
Název česky | Studie rtg rozptylu na kyslíkových precipitátech v CZ Si |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2010 |
Druh | Konferenční abstrakty |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Popis | Dvě difrakční metody byly použity pro charakterizaci kyslíkových precipitátů v sérii vzorků CZ křemíku. |
Související projekty: |