prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

2002

• Lateral composition modulation in (InAs)(n)/(AlAs)(m) short-period superlattices investigated by high-resolution x-ray scattering

  LI Jianhua HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2002, ročník: 66, vydání: 8

• Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

  MEDUŇA Mojmír HOLÝ Václav STANGL Julian

  Článek v odborném periodiku

  Physica E, rok: 2002, ročník: 13, vydání: 4

• Processes of self-organization during epitaxial growth of semiconductor superlattices - an x-ray scattering study

  HOLÝ Václav STANGL Julian BAUER Guenther SPRINGHOLZ Gunther

  Kapitola v knize

  From Semiconductors to Proteins: Beyond the Averaged Structure, rok: 2002, počet stran: 17 s.

• Self-organized ordering in self-assembled quantum dot superlattices

  SPRINGHOLZ Gunther MAYER Peter HOLÝ Václav BAUER Guenther

  Článek v odborném periodiku

  Material Sci. and Engn., rok: 2002, ročník: B88, vydání: 10

• Self-organized semiconductor nanostructures: shape, strain and composition

  STANGL Julian HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Materials Science and Engineering, rok: 2002, ročník: C19, vydání: 3

• Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction

  ROCH Tomáš HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2002, ročník: B65, vydání: 11

• Structural investigation of semiconductor nanostructures by x-ray techniques

  STANGL Julian HESSE Anke ROCH Tomáš HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, rok: 2002, ročník: 200, vydání: 1

2001

• C-N/MeN nanocomposite coatings, deposition and testing of performance

  SOBOTA Jaroslav BOCHNÍČEK Zdeněk HOLÝ Václav SORENSEN G. JENSEN H.

  Článek v odborném periodiku

  Surface and coating technology, rok: 2001, ročník: 142, vydání: 142

• Effect of substrate heating and ion beam polishing on the interface quality in Mo/Si multilayers - X-ray comparative study

  ANOPCHENKO A. JERGEL M. MAJKOVA E. HOLY V.

  Článek v odborném periodiku

  Physica B, rok: 2001, ročník: 305, vydání: 1

• GID study of strains in Si due to patterned SiO2

  DANIEL A.; HOLÝ Václav ZHUANG Y. ROCH T. GRENZER J. BOCHNÍČEK Zdeněk BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A