prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4360 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 210
2004
-
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures
Rok: 2004, počet stran: 408 s.
-
Ordering parameters of self-organized three-dimensional quantum-dot lattices determined from anomalous x-ray diffraction
Appl. Phys. Lett., rok: 2004, ročník: 84, vydání: 6
-
Shape and composition change of Ge dots due to Si capping
Applied Surface Science, rok: 2004, ročník: 224, vydání: 2
-
Structural properties of self-organized semiconductor nanostructures
Review of Moder Physics, rok: 2004, ročník: 76, vydání: 4
-
X-ray diffraction on laterally modulated (InAs)n/(AlAs)m short-period superlattices
Journal of Applied Physics, rok: 2004, ročník: 96, vydání: 9
-
X-ray Diffuse Scattering from Defects in Nitrogen-doped Czochralski Grown Silicon Wafers
Proceedings of The Ninth Scientific and Business Conference SILICON 2004, rok: 2004
2003
-
Composition determination in quantum dots with in-plane scattering compared with STEM and ADX analysis
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2003, ročník: 36, vydání: 10
-
Dynamical diffraction in layered systems - a quest for the final formula
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2003, ročník: 36, vydání: 10
-
Effect of overgrowth temperature on shape, strain, and composition of buried Ge islands deduced from x-ray diffraction
Applied Physics Letters, rok: 2003, ročník: 82, vydání: 11
-
Friction and wear properties of C-N/MeNx nanolayer composites
Thin Solid Films, rok: 2003, ročník: 94, vydání: 12