prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4360 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 210
2005
-
Ge/Si islands in a three-dimensional island crystal studied by x-ray diffraction
Journal of Applied Physics, rok: 2005, ročník: 98, vydání: 7
-
Patterson-like analysis of diffuse x-ray scattering from epitaxial mosaic PbTe layers on Si(111)
Journal of Applied Physics, rok: 2005, ročník: 98, vydání: 10
-
Spontaneous lateral modulation in short-period superlattices investigated by grazing-incidence X-ray diffraction
Physical Review B, rok: 2005, ročník: 72, vydání: 3
-
X-ray diffraction from polycrystalline multilayers in grazing-incidence geometry: Measurement of crystallite size depth distribution
Physical Review B, rok: 2005, ročník: 72, vydání: 17
-
X-ray diffuse scattering from defects in nitrogen-doped Czochralski grown silicon wafers
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 2005, vydání: 38
-
X-ray scattering methods for the study of epitaxial self-assembled quantum dots
Quantum dots: Fundamentals, applications and frontiers, vydání: Vyd. 1., rok: 2005, počet stran: 25 s.
2004
-
3D hexagonal versus trigonal ordering in self-organized PbSe quantum dot superlattices
Physica E, rok: 2004, ročník: 21, vydání: 11
-
A method for the charcterization of strain fields in burid quantum dots using X-ray standing waves
Journal of physics D: Applied physics, rok: 2004, ročník: 38, vydání: 10A
-
Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers
Zeitschrift fur Kristalographie, rok: 2004, ročník: 219, vydání: 4
-
High-resolution diffuse x-ray scattering from threading dislocations in heteroepitaxial layers
Applied Physics Letters, rok: 2004, ročník: 85, vydání: 7