prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2002

• Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel POKORNÝ Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

• Aplikace mikroskopie magnetické síly při studiu záznamového prostředí pevných disků

  ŠILER Martin KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7

• Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7

• Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr POKORNÝ Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

• Influence of overlayers on determination of the optical constants of ZnSe thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2002, ročník: 92, vydání: 4

• Optical characterization of diamond like carbon films using multi-sample modification of variable angle spectroscopic ellipsometry

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan JANČA Jan VELTRUSKÁ Kateřina

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2002, ročník: 11, vydání: 1

• Optical characterization of thin films non-uniform in thickness by a multiple-wavelength reflectance method

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KRÁLÍK Tomáš JÁKL Miloš ELIÁŠ Marek

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

2001

• Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr POKORNÝ Pavel OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2001, ročník: 32, vydání: 1

• Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek ve sborníku

  12th Czech-Slovak-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 2001

• Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel FRUMAR Miroslav JEDELSKÝ Jaroslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2001, ročník: 3, vydání: 4