prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
2004
-
Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces
Ultramicroscopy, rok: 2004, ročník: 102, vydání: 1
-
Mechanical stresses studied by optical methods in diamond-like carbon films containing Si and O
SPIE's 49th Annual Meeting, rok: 2004
-
Optical Properties of Diamond-Like Carbon Films Containing SiOx Studied by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1
-
Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 468, vydání: 1-2
2003
-
Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe
Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2
-
Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films
Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 3
-
Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films
Japanese Journal of Applied Physics, rok: 2003, ročník: 42, vydání: 7B
-
Expression of the optical constants of chalcogenide thin films using the new parameterization dispersion model
Applied Surface Science, rok: 2003, ročník: 212-213, vydání: 1
-
Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry
Proceedings of SPIE, rok: 2003, ročník: 5182, vydání: 2
-
Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků
Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2