prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02014
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4505 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 134
1999
-
Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)
Optical Materials, rok: 1999, ročník: 1999, vydání: 12
-
The far-infrared in-plane conductiivity of YBaCuO studied by ellipsometry
physics status solidi (b), rok: 1999, ročník: 215, vydání: 1
1998
-
Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 313-314
-
Ellipsometry and transport studies of thin-film metal nitrides
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 332
-
Infrared ellipsometry of LiF
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 313-314
-
Localized vibrational modes of interstitial oxygen in Si x Ge 1-x alloys
Acta physica polonica A, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 3
-
Optical functions of silicon at high temperatures
Journal of Applied Physics, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 11
-
Silicon-germanium alloys (Si x Ge 1-x) revisited
Handbook of optical Constants of solids III, vydání: Vyd. 1, rok: 1998, počet stran: 16 s.
-
Spectroscopic ellipsometry of fullerene embedded langmuir-blodgett films with surface plasmon excitation
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 313-314
1997
-
Thermally modulated optical response of C 60 thin films in the region of absorption edge
Molecular nanostructures, rok: 1997, ročník: 1998, vydání: -