prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02014
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4505 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 134
2004
-
Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1
-
Electronic Structure and Optical Properties of InAs/GaAs Quantum Dots
WDS'04 Proceedings of contributed papers, rok: 2004
-
Far-infrared ellipsometry using a synchrotron light source - the dielectric response of the cuprate high Tc superconductors
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1
-
In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry
Jemná mechanika a optika, rok: 2004, ročník: 9/2004, vydání: 9
-
Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Czochralski Silicon
WDS'04 Proceedings of Contributed Papers, rok: 2004
-
Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Nitrogen-doped Czochralski Silicon
Proceedings of The Ninth Scientific and Business Conference SILICON 2004, rok: 2004
-
Infrared study of YBa2Cu3O7/La0.67Ca0.33MnO3 superlattices
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 2004, vydání: 455
-
Proximity induced metal-insulator transition in YBa2Cu3O7/La2/3Ca1/3MnO3 superlattices
Physical Review B, rok: 2004, ročník: 69, vydání: 6
-
Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455/2004, vydání: may
2003
-
Strain field in quantum dots
WDS'03 Proceedings of Contributed Papers, rok: 2003