prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.
Počet publikací: 7
2019
-
Preparation of high-quality stress-free (001) aluminum nitride thin film using a dual Kaufman ion-beam source setup
Thin Solid Films, rok: 2019, ročník: 670, vydání: December, DOI
2018
-
PREPARATION OF [001] ORIENTED TITANIUM THIN FILM FOR MEMS APPLICATIONS BY KAUFMAN ION-BEAM SOURCE
9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOMATERIALS - RESEARCH & APPLICATION (NANOCON 2017), rok: 2018
2017
-
Stress-free deposition of [001] preferentially oriented titanium thin film by Kaufman ion-beam source
Thin Solid Films, rok: 2017, ročník: 638, vydání: September, DOI
2016
-
Preparation of (001) preferentially oriented titanium thin films by ion-beam sputtering deposition on thermal silicon dioxide
Journal of materials science, rok: 2016, ročník: 51, vydání: 7, DOI
-
Type-I and Type-II Confinement in Quantum Dots: Excitonic Fine Structure
ACTA PHYSICA POLONICA A, rok: 2016, ročník: 129, vydání: 1A, DOI
2015
-
Excitonic fine structure splitting in type-II quantum dots
Physical Review B, rok: 2015, ročník: 92, vydání: 19, DOI
2014
-
Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition
NANOTECHNOLOGY, rok: 2014, ročník: 25, vydání: 18, DOI