1995

• Theoretical study of band-edge states in Sn 1 Ge n strained-yer superlattices

  WILLATZEN M. LEW YAN VOON L. C. SANTOS P. V. CARDONA M. MUNZAR Dominik CHRISTENSEN Niels Egede

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1995, ročník: 52(1995), vydání: 7

• X-ray diffraction on Fibonacci superlattices

  MIKULÍK Petr HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  Acta Crystallographica A, rok: 1995, ročník: 51, vydání: 9999

1994

• Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si 9 Ge 6 superlattice by x-ray diffraction

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1994, ročník: 64, vydání: 2

• Diffuse x-ray scattering from non-ideal periodical crystalline multilayers

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 58(1994), vydání: -

• Diffuse x-ray scattering from p+ porous silicon by triple axis diffractometry

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1994, ročník: 65, vydání: 12

• Effect of interfacial-roughness replication on the diffuse x-ray reflection from periodical multilayers

  HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 60, vydání: -

• Electronic structure of Sn/Ge superlattices

  MUNZAR Dominik CHRISTENSEN Niels Egede

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1994, ročník: 49(1994), vydání: 16

• Far-infrared response of free carriers in YBA 2 Cu 3 O 7 from ellipsometric measurements

  HUMLÍČEK Josef KAMARAS K. THOMSEN C. REEDYK M. CARDONA M.

  Článek v odborném periodiku

  Physica C, rok: 1994, ročník: 222, vydání: 1

• Fractal structure in optical spectra of Fibonacci superlattices

  MUNZAR Dominik BOČÁNEK Luděk HUMLÍČEK Josef PLOOG K.

  Článek v odborném periodiku

  J.Phys.: Condens. Matter, rok: 1994, ročník: 6(1994), vydání: -

• High resolution x-ray triple axis diffractometry of short period Si m Ge n superlattices

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Jpn. J. Appl. Phys., rok: 1994, ročník: 33, vydání: 4B