Temperature stability of the pentacene thin-film phase

• Autoři: MOSER Armin; NOVÁK Jiří; FLESCH Heinz-Georg; DJURIC Tatjana; WERZER Oliver; HAASE Anja; RESEL Roland
• Rok publikování: 2011
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Applied Physics Letters
• Doi: http://dx.doi.org/10.1063/1.3665188
• Klíčová slova: crystal morphology; organic semiconductors; semiconductor thin films; thermal expansion; X-ray diffraction