Informace o publikaci
X-Ray Nano-Diffraction on Epitaxial Crystals
Název česky | Rtg nano-difrakce na epitaxních krystalech |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2014 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Quantum Matter |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
www | http://www.ingentaconnect.com/content/asp/qm/2014/00000003/00000004/art00002 |
Doi | http://dx.doi.org/10.1166/qm.2014.1127 |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | defect-free; epitaxial ge-crystals; lattice mismatch; si substrates; thermal expansion mismatch; x-ray nanodiffraction |
Popis | Koncept růstu epitaxních Ge a SiGe krystalů na vysokých Si pilířích může poskytovat řešení problémů spojených s rozdílním mřížkovým parametrem a tepelnou roztažností, dislokace, ohyb desek a praskání. Omezená šířka rozlišení svazku odhaluje že epitaxní struktury se vyvinou v perfektní dokonalé krystaly daleko do tžce narušeného povrchu. |
Související projekty: |