Quantitative analysis of strain relaxation and mosaicity in short period Si m Ge n superlattices using reciprocal space mapping by x-ray diffraction

• Autoři: KOPPENSTEINER E.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1994
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Solid-State Electronics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur