Informace o publikaci
Interface study of W-Si/Si and obliquely deposided W/Si multilayers by grazing-incidence high-resolution x-ray diffraction
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1995 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | J. Phys. D: Appl. Phys. |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Související projekty: |