X-ray reflectivity from self-assembled structures in Ge/Si superlattices

• Autoři: MEDUŇA Mojmír; HOLY V.; ROCH T.; BAUER G.
• Rok publikování: 2001
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: J. Phys.D.: Appl. Phys.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Popis: X-ray reflectivity from self-assembled structures in Ge/Si superlattices

Související projekty

• Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek