Informace o publikaci
Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)
| Název česky | Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-phenylsilanu) |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2004 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Thin Solid Films |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | temperature; ellipsometric spectra; poly(methyl-phenylsilane); |
| Popis | Souhrnná studie teplotní závislosti UV-VIS elipsometrických spekter tenkých vrstev poly(methyl-phenylsilanu). Byl nalezen práh nevratných změn optické odezvy na 373 K a dále průměrný teplotní posuv nejnižšího excitonového pásu v oblasti vratných změn. Efekt žíhání pod a nad 373 K byl studován při nízkém a vysokém stupni UV expozice. |
| Související projekty: |