![Důležité termíny](https://cdn.muni.cz/media/3633704/image_2.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=133572412150000000&heightratio=0.5&width=278)
Informace o publikaci
Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques
Autoři | |
---|---|
Rok publikování | 2011 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Solid State Phenomena |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction |
Popis | Cílem práce bylo studium kyslíkových precipitátů vyrostlých uvnitř desek Czochralského křemíku pomocí rtg difrakce v Braggově a Laueho geometrii na průchod. |
Související projekty: |