Informace o publikaci
Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation
Název česky | Výkon mikrozobrazování multivrstev používaných jako monochromátorů pro koherentní tvrdé synchrotronové záření |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2010 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
www | http://spiedigitallibrary.org/proceedings/resource/2/psisdg/7802/1/78020M_1?isAuthorized=no |
Doi | http://dx.doi.org/10.1117/12.858355 |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | Coherence; Multilayer mirrors; Synchrotron radiation; X-ray imaging; X-ray monochromators; X-ray optics; X-ray phase contrast |
Popis | Prezentujeme systematickou studii ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodou (od 2.5 do 5.5 nm) a množstvím vrstev. |
Související projekty: |