Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3836 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 217
2014
-
Measurement of thickness distribution, optical constants, and roughness parameters of rough nonuniform ZnSe thin films
Applied Optics, rok: 2014, ročník: 53, vydání: 25, DOI
-
Utilization of the sum rule for construction of advanced dispersion model of crystalline silicon containing interstitial oxygen
Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: november, DOI
2013
-
Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films
Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 541, vydání: Aug, DOI
-
Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon
Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 539, vydání: Jul, DOI
-
Application of Thomas-Reiche-Kuhn sum rule to construction of advanced dispersion models
Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 534, vydání: May, DOI
-
Ellipsometric characterization of inhomogeneous non-stoichiometric silicon nitride films
Surface and Interface Analysis, rok: 2013, ročník: 45, vydání: 7, DOI
2012
-
Method of realisation of polyreactions, plasma-chemical polyreactions, their modification and modification of macromolecular substances by the plasma jet with a dielectric capillary enlaced by a hollow cathode
Vydavatel: Evropský patentový úřad, stát vydání: Nizozemsko, číslo patentu: EP2009029, rok: 2012
-
MULTIFUNCTIONAL TRANSPARENT PROTECTIVE COATINGS ON POLYCARBONATES PREPARED USING PECVD
Chem. Listy, rok: 2012, ročník: 106/2012, vydání: 106
2011
-
Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI
-
Combination of Synchrotron Ellipsometry and Table-Top Optical Measurements for Determination of Band Structure of DLC Films
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI