Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2017

• Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride

  FRANTA Daniel NEČAS David GIGLIA Angelo FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: November, DOI

2016

• Materials Pushing the Application Limits of Wire Grid Polarizers further into the Deep Ultraviolet Spectral Range

  SIEFKE Thomas KROKER Stefanie PFEIFFER Kristin PUFFKY Oliver DIETRICH Kay FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan SZEGHALMI Adriana KLEY Ernst-Bernhard TÜNNERMANN Andreas

  Článek v odborném periodiku

  Advanced Optical Materials, rok: 2016, ročník: 4, vydání: 11, DOI

• Optical characterization of SiO2 thin films using universal dispersion model over wide spectral range

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan GIGLIA Angelo

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Micro- and Nanometrology VI, rok: 2016

• Simultaneous determination of optical constants, local thickness and roughness of ZnSe thin films by imaging spectroscopic reflectometry

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLIDAL M. VODAK J.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics, rok: 2016, ročník: 18, vydání: 1, DOI

2015

• Dělič světla pro hlubokou ultrafialovou (DUV) oblast spektra na vlnové délce 266nm a dopadový úhel 45°±6°

  BŘEZINA Jaromír FRANTA Daniel

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2015

• Dispersion model for optical thin films applicable in wide spectral range

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan GIGLIA Angelo

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Systems Design - Optical Fabrication, Testing, and Metrology V, rok: 2015

• Optická charakterizace povrchů skel SML3103/3/15

  FRANTA Daniel FRANTA Pavel

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2015

• Polarizační kostka pro hlubokou ultrafialovou (DUV) oblast spektra na vlnové délce 266nm

  BŘEZINA Jaromír FRANTA Daniel

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2015

• Possibilities and limitations of imaging spectroscopic reflectometry in optical characterization of thin films

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan NEČAS David VODÁK Jiří FRANTA Daniel NÁDASKÝ Pavel VIŽĎA František

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Systems Design - Optical Fabrication, Testing, and Metrology V, rok: 2015

• Simultaneous determination of optical constants, local thickness, and local roughness of thin films by imaging spectroscopic reflectometry

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan VODÁK Jiří OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Systems Design - Optical Fabrication, Testing, and Metrology V, rok: 2015