Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

1998

• Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1

1997

• Analysis of single layers placed on slightly rough surfaces by spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and atomic force microscopy

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel REZEK Bohuslav OHLÍDAL Miloslav

  Článek ve sborníku

  ECASIA 97 - 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1997

1996

• Method of shearing interferometry for characterizing non-gaussian randomly rough surfaces

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel MICHÁLEK Aleš

  Článek ve sborníku

  Specification, Production, and Testing of Optical Components and Systems, rok: 1996

• Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces Covered by Layers

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel HORA Jaroslav

  Článek ve sborníku

  ECASIA 95 - 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1996

• Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HORA Jaroslav NAVRÁTIL Karel

  Článek ve sborníku

  12. konference českých a slovenských fyziků, rok: 1996

1995

• A method of shearing interferometry for determining the statistical quantities of randomly rough surfaces of solids

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan DRUCKMÜLLER Miloslav FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Pure Appl. Opt., rok: 1995, ročník: 4, vydání: 5

• Interferometry of Randomly Rough Surfaces

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan DRUCKMÜLLER Miloslav FRANTA Daniel

  Článek ve sborníku

  Photonics '95, rok: 1995