1999

• High-resolution x-ray diffraction on self-organized step bunches of Si_1-xGe_x grown on (113)-oriented Si

  STANGL J. HOLÝ Václav DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr BAUER G. ZHU J. BRUNNER K. ABSTREITER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers

  HOLÝ Václav PIETSCH U. BAUMBACH T.

  Odborná kniha

  Rok: 1999, počet stran: 256 s.

• Infrared Spectroscopy of LiF on Ag and Si

  HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Phys.stat.sol.(b), rok: 1999, ročník: 215(1999), vydání: -

• Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

  LORENC Michal ŠIK Jan NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel HUMLÍČEK Josef VORLIČEK V. HULICIUS E.

  Článek ve sborníku

  Workshop proceedings EW MOVPE VIII, rok: 1999

• Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)

  NAVRÁTIL Karel ŠIK Jan HUMLÍČEK Josef NEŠPŮREK S.

  Článek v odborném periodiku

  Optical Materials, rok: 1999, ročník: 1999, vydání: 12

• Self-assembled carbon-induced germanium quantum dots studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering

  STANGL J. HOLÝ Václav MIKULÍK Petr BAUER G. KEGEL I. METZGER T.H. SCHMIDT O.G. LANGE C. EBERL K.

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 1999, ročník: 74, vydání: -

• Self-assembled Germanium-dot multilayers embedded in Silicon

  BAUER G. DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Cryst. Res. Technol., rok: 1999, ročník: 34(1999), vydání: 2

• Strain Induced Vertical and Lateral Correlations in Quantum Dot Superlattices

  HOLÝ Václav SPRINGHOLZ G. PINCZOLITS M. BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review Letters, rok: 1999, ročník: 83(1999), vydání: 2

• Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction

  ZHUANG Y. HOLÝ Václav STANGL J. DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G. DAROWSKI N. LÜBBERT D. PIETSCH U.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. LUBY Š. SENDERÁK R. PINČÍK E. BRUNEL M. HUDEK P. KOSTIČ I. KONEČNÍKOVÁ A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 85, vydání: 2