Ing. Pavel Franta
technik – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3709 |
---|---|
e‑mail: |
Počet publikací: 12
2024
-
Wide spectral range optical characterization of niobium pentoxide (Nb2O5) films by universal dispersion model
Optical Materials, rok: 2024, ročník: 157, vydání: November, DOI
2023
-
FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs
Rok: 2023
-
Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model
Coatings, rok: 2023, ročník: 13, vydání: 2, DOI
2022
2021
2020
-
Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.
Rok: 2020
2019
-
Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model
Journal of Vacuum Science & Technology B, rok: 2019, ročník: 37, vydání: 6, DOI
-
Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics
Journal of Electrical Engineering, rok: 2019, ročník: 70, vydání: 7, DOI
2018
-
Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region
Journal of Applied Physics, rok: 2018, ročník: 123, vydání: 18, DOI
2017
-
Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon
Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: November, DOI