prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

2015

• SiC characterization using optical and x-ray techniques

  HUMLÍČEK Josef CAHA Ondřej

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2015

2014

• Imaging in NIR *SOI, GaN

  MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2014

• Metrology of epitaxial layers *GaN

  CAHA Ondřej WANG Chennan MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výzkumná zpráva

  Rok: 2014

• Raman and interband optical spectra of epitaxial layers of the topological insulators Bi2Te3 and Bi2Se3 on BaF2 substrates

  HUMLÍČEK Josef HEMZAL Dušan DUBROKA Adam CAHA Ondřej STEINER Hubert BAUER Gunther SPRINGHOLZ Guenther

  Článek v odborném periodiku

  Physica Scripta, rok: 2014, ročník: T162, vydání: September, DOI

• Zařízení pro měření rekombinačních procesů v epitaxních vrstvách křemíku

  BOČÁNEK Luděk HUMLÍČEK Josef

  Výsledky s právní ochranou

  Rok: 2014

• Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI

  MÜNZ Filip HUMLÍČEK Josef

  Výsledky s právní ochranou

  Rok: 2014

2013

• Data Analysis for Nanomaterials: Effective Medium Approximation, Its Limits and Implementations

  HUMLÍČEK Josef

  Kapitola v knize

  Ellipsometry at the Nanoscale, rok: 2013, počet stran: 34 s.

• Growth, Structure, and Electronic Properties of Epitaxial Bismuth Telluride Topological Insulator Films on BaF2 (111) Substrates

  CAHA Ondřej DUBROKA Adam HUMLÍČEK Josef HOLÝ Václav STEINER Hubert UL-HASSAN M. SANCHEZ-BARRIGA Jaime RADER Oliver STANISLAVCHUK T. N. SIRENKO Andrei A. BAUER Günther SPRINGHOLZ Günter

  Článek v odborném periodiku

  Crystal Growth & Design, rok: 2013, ročník: 13, vydání: 8, DOI

• Infrared Ellipsometric Investigations of Free Carriers and Lattice Vibrations in Superconducting Cuprates

  CHALOUPKA Jiří MUNZAR Dominik HUMLÍČEK Josef

  Kapitola v knize

  Ellipsometry at the Nanoscale, rok: 2013, počet stran: 23 s.

• Lattice constants and optical response of pseudomorph Si-rich SiGe:B

  CAHA Ondřej KOSTELNÍK P. ŠIK Jan KIM Y.D. HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 2013, ročník: 103, vydání: 20, DOI