![Důležité termíny](https://cdn.muni.cz/media/3633704/image_2.jpg?mode=crop¢er=0.5,0.5&rnd=133572412150000000&heightratio=0.5&width=278)
prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4360 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 210
1999
-
Lateral arrangement of self-assembled quantum dots in an SiGe/Si supertattice
Semicond. Sci. Technol., rok: 1999, ročník: 32(1999), vydání: -
-
Self-assembled carbon-induced germanium quantum dots studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering
Applied Physics Letters, rok: 1999, ročník: 74, vydání: -
-
Self-assembled Germanium-dot multilayers embedded in Silicon
Cryst. Res. Technol., rok: 1999, ročník: 34(1999), vydání: 2
-
Strain Induced Vertical and Lateral Correlations in Quantum Dot Superlattices
Physical Review Letters, rok: 1999, ročník: 83(1999), vydání: 2
-
Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999
-
Thermal stability of amorphous Nb/Si multilayers studied by x-ray reflection
Bulletin Krystalografické společnosti Materials Structure, rok: 1999, ročník: 6, vydání: 1
-
X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots
Journal of Materials Science: Materials in Electronics, rok: 1999, ročník: (10)1999, vydání: -
-
X-ray reflection from self-organized interfaces in an SiGe/Si multilayer
Semicond. Sci. Technol., rok: 1999, ročník: 14(1999), vydání: -
1998
-
Coplanar and grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers
Physical Review B, rok: 1998, ročník: (58)1998, vydání: 12
-
Highly regular self-organization of step bunches during growth of SiGe on Si(113)
Appl. Phys. Lett., rok: 1998, ročník: 73(1998), vydání: -